این نوع میکروسکوپ نیز خود شامل دو نوع است:
الف: میکروسکوپ تونلی روبشی^[۳۶](STM).
ب: میکروسکوپ نیروی اتمی^[۳۷](AFM).
این نوع میکروسکوپ برای به دست آوردن تصاویر سه بعدی از نانومواد بسیار مناسب است. این روش علاوه بر پستی و بلندی سطح، می‌تواند امکان تعیین ساختار سطحی، ساختار الکترونیکی، ساختار مغناطیسی و یا هر خاصیت موضعی دیگر را فراهم آورد.

۲-۱۴-۴ روش‌های اندازه‌گیری خواص مغناطیسی
هدف از مغناطیس‌سنجی، اندازه‌گیری میزان مغناطیس نانومواد است که با روش‌های گوناگون و با بهره گرفتن از پدیده‌های مغناطیسی مختلف می‌تواند انجام شود. روشی که به طور گسترده مورد استفاده قرار می‌گیرند عبارت است از:
-مغناطیس‌سنج با نمونه‌ی ارتعاشی^[۳۸](VSM).
در این روش، نمونه پس از مراحل آماده‌سازی در یک میدان مغناطیسی خارجی قرار گرفته، منحنی مغناطیس آن بر حسب میدان اعمالی (منحنی پسماند) رسم می‌شود. با بررسی و تفسیر منحنی پسماند، می‌توان میزان مغناطیس و بسیاری از موضوعات دیگر مغناطیسی در نانومواد را به دست آورد.
۲-۱۵ تاریخچه کاربرد Fe₃O₄
جدول(۲-۶) عنوان برخی مقالات که با نانو ذرات مغناطیسی Fe₃O₄ کار شده است را بیان می کند
جدول (۲-۶) عنوان مقالات کار شده با Fe₃O₄